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Reticolo di diffrazione

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Diffrazione dei raggi XDiffrazione dei raggi X

Reticolo di diffrazione Dispositivo ottico utilizzato per l'analisi della radiazione elettromagnetica. Ne esistono di due tipi: a trasmissione e a riflessione. Il primo è costituito da una superficie piana di un materiale opaco, su cui sono praticate migliaia di sottili incisioni parallele secondo uno schema ben definito; il secondo ha una struttura analoga, ma è costituito da materiale riflettente e ha righe verticali opache.

Quando un'onda luminosa monocromatica incide perpendicolarmente sulla superficie del reticolo, viene trasmessa (nel reticolo a trasmissione) o riflessa (in quello a riflessione). Analizzando la luce trasmessa o riflessa nelle diverse direzioni, si possono osservare caratteristiche variazioni di intensità al variare della direzione considerata, dovute al fenomeno dell'interferenza. Le onde luminose si sommano lungo alcune direzioni mentre si annullano reciprocamente in altre (interferenza costruttiva e distruttiva). Misurando le regolari variazioni di intensità che si manifestano, è possibile risalire alla lunghezza d'onda, o equivalentemente alla frequenza, dell'onda elettromagnetica incidente.

Solitamente i reticoli di diffrazione misurano dagli 8 ai 10 cm e presentano circa 1500 incisioni al millimetro. Effetti di diffrazione possono essere osservati anche su molte superfici che presentano sottili scalfiture come i CD e dischi in vinile oppure le ali di farfalla. Il primo rudimentale reticolo di diffrazione fu realizzato dal fisico tedesco Joseph von Fraunhofer. Verso la fine del XIX secolo il fisico statunitense Henry Rowland riuscì a produrre reticoli di diffrazione di alta qualità che contenevano fino a 800 linee per mm. Oggi, grazie al ricorso agli interferometri e ai sistemi basati sulla tecnologia laser, è possibile controllare il processo di scalfittura ottenendo fino a 5000 linee per mm.

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