Microscopio a forza atomica (AFM)

Il microscopio a forza atomica permette di effettuare analisi non distruttive di superfici, con una risoluzione inferiore al nanometro (un miliardesimo di metro). Una sonda di dimensioni dell'ordine del micrometro (un milionesimo di metro) esplora la superficie da analizzare, a contatto o a brevissima distanza da essa (circa 10 armstrong). Interagendo con gli atomi del campione, subisce microscopiche deflessioni che, attraverso un sensibilissimo dispositivo, vengono tradotte nei dettagli di un'immagine topografica della superficie del campione. Rispetto allo Scanning Electron Microprobe (SEM), il microscopio a forza atomica ha il vantaggio di consentire analisi non distruttive e di adattarsi anche a campioni di materiale non conduttore. Tipicamente viene impiegato per esaminare wafer semiconduttori, compact disc e altri supporti magnetici.

Per concessione di Digital Instruments, Veeco Metrology Group

Compare in:

Nanotubo; Microscopio

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